多功能高速导通电阻测试能够在定点温度、高温高湿、高低温冷热冲击、高低温快速温度循环、高度加速寿命试验，各种可靠度环境试验下，高速量测、纪录、数据分析各种材料与焊点，如：FPC、PCBA、电阻、电感、 电容、BGA、CSP焊点、先进封装(Sip、SoC、WLP、PLP、FOWLP、3D-IC、FCin MCep、FCBGA、 Fc CSP等)的接合度可靠性，协助客户快速有效分析产品。

射频泄漏测试设备中被测产品：同轴连接器、电线电缆组件。被测产品大尺寸：半径500mm。测试频率：1GHz---18GHz，被测产品大屏蔽效能：110dBm测试方法：混响室测试法。测试使用标准：GJB1217A-2009中的3008方法及MIL-STD-1344A 的3008方法。

耐射频高电位电压测试仪是射频连接器中用的绝缘材料测试，输出电压为：200V~3000V（有效值）正弦电压。输出电压大小在该范围从小到大或从大到小可连接在任一电压点设定，试验。输出的频率范围为：5~7.5MHZ。

电晕电平测试系统是根据标681A中耐射频高电位电压的试验要求，为满足周期试验及工艺试验要求，试验需要的指标范围为：$n指标1：海拔高度：21336米（气压值4.4Kpa）；$n指标2：有能指示电晕放电的设备；$n指标2：输出电压值：0～5000V。